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提出了一种金属辅助化学印迹的方案,将形状精度低于20 nm的3D微尺度特征印制到固体和多孔硅晶圆中。
金属辅助电化学压印(Mac-Imprint)是金属辅助化学蚀刻(MACE)和纳米压印光刻的组合,能够直接图案化单晶IV族(例如Si)和III-V(例如GaAs)半导体中的3D微米和纳米级特征,而无需牺牲模板和光刻步骤。在此过程中,在氢氟酸(HF)和过氧化氢(H2O2)混合物存在的情况下,涂有贵金属催化剂的可重复使用的印章与Si晶圆接触,这导致Si在金属 - 半导体接触界面处选择性蚀刻。在该协议中,我们讨论了在两种Mac-压印配置中应用的印章和底物制备方法:(1)具有固体催化剂的多孔Si Mac压印;(2)固体Si Mac-压印与多孔催化剂。该过程具有高通量,能够以低于20nm的分辨率进行厘米级的平行图案化。它还可在单次操作中提供低缺陷密度和大面积图案化,并绕过了深度反应离子蚀刻(DRIE)等干法蚀刻的需要。
半导体的三维微米和纳米级图案化和纹理化在各个领域具有众多应用,例如光电子学1,2,光子学3,抗反射表面4,超疏水和自清洁表面5,6 等。通过软光刻和纳米压印光刻,以低于20nm的分辨率成功完成了聚合物薄膜的原型设计和批量生产3D和分层图案。然而,将这种3D聚合物图案转移到Si中需要在反应离子蚀刻过程中掩模图案的蚀刻选择性,从而限制了纵横比,并且由于扇形效应而导致形状变形和表面粗糙度7,8。
一种称为Mac-Imprint的新方法已经实现,用于多孔9和固体Si晶圆10,11以及固体GaAs晶圆的平行和直接图案化12,13,14。Mac-Imprint是一种基于接触的湿法蚀刻技术,要求基板与贵金属涂层印章在存在由HF和氧化剂(例如,Si Mac-压印的情况下为H2O2)组成的蚀刻溶液(ES)的情况下具有3D特征的接触。在蚀刻过程中,两种反应同时发生15,16:阴极反应(即贵金属处的H2O2还原,在此期间产生正电荷载体[孔]并随后注入Si17)和阳极反应(即Si溶解,在此期间消耗空穴)。经过足够的时间接触后,印章的3D特征被蚀刻到硅晶圆中。与传统的光刻方法相比,Mac-Imprint具有许多优点,例如高通量,与卷对板和卷对卷平台,无定形,单晶和多晶硅和III-V半导体的兼容性。Mac-Imprint 邮票可以重复使用多次。此外,该方法可以提供低于20 nm的蚀刻分辨率,与当代直接书写方法兼容。
实现高保真压印的关键是到蚀刻前端的扩散途径(即催化剂和基板之间的接触界面)。Azeredo等人的工作 首先证明了ES扩散是通过多孔Si网络实现的。Torralba等人报道说,为了实现固体Si Mac-压印,ES扩散是通过多孔催化剂实现的。Bastide et al.19 和 Sharstniou et al.20 进一步研究了催化剂孔隙度对 ES 扩散的影响。因此,Mac-Imprint的概念已经在三种具有不同扩散途径的配置中进行了测试。
在第一种结构中,催化剂和基板是固体的,不提供初始扩散途径。缺乏反应物扩散导致在压印过程中发生二次反应,在催化剂-Si界面边缘周围的基板上形成一层多孔Si。反应物随后耗尽,反应停止,导致印章和底物之间没有可辨别的图案转移保真度。在第二种和第三种配置中,扩散途径通过引入基底(即多孔Si)或催化剂(即多孔金)中的多孔网络来实现,并且实现了高图案转移精度。因此,通过多孔材料的质量传递在使反应物和反应产物扩散到接触界面和远离接触界面9,18,19,20方面起着关键作用。所有三种配置的原理图如图1所示。
图 1:Mac-Imprint 配置示意图。 该图突出了多孔材料在使反应物质通过基体(即,情况II:多孔硅)或印章(即情况III:由多孔金制成的催化剂薄膜)扩散方面的作用。 请点击此处查看此图的放大版本。
在本文中,对Mac-Imprint工艺进行了深入讨论,包括印章准备和基材预处理以及Mac-Imprint本身。协议中的衬底预处理部分包括硅晶圆清洗和硅晶圆图案化,包括干蚀刻和衬底阳极氧化(可选)。此外,将印章准备部分细分为几个程序:1)Si主模具的PDMS复制成型;2)光刻胶层的紫外纳米压印,以转移PDMS图案;3)通过磁控溅射进行催化层沉积,然后进行脱合金(可选)。最后,在Mac-Imprint部分中,介绍了Mac-Imprint设置以及Mac-Imprint结果(即Si表面3D分层图案)。
注意:使用适当的安全措施和个人防护装备(例如,实验室外套、手套、安全眼镜、露趾鞋)。该程序使用HF酸(48%重量),这是一种极其危险的化学物质,需要额外的个人防护装备(即面罩,天然橡胶围裙和第二副覆盖手,手腕和前臂的丁腈手套)。
1. 印章准备
图 2:RCA-1 清洁过程。 (a) 溶液加热和(b) 硅清洁。 请点击此处查看此图的放大版本。
图3:PDMS模具制造工艺。 (a) 进程示意图。(b) 工艺步骤的照片。 请点击此处查看此图的放大版本。
图4:光刻胶紫外纳米压印工艺。 (a) 光刻胶旋涂布的照片。(b) 紫外纳米压印的示意图和照片。 请点击此处查看此图的放大版本。
图5:催化印章制备过程。 (a) 薄膜沉积示意图。(b) 磁控溅射系统的照片。(c) 带有代表性多孔金SEM图像的脱合金过程照片。 请点击此处查看此图的放大版本。
2. 硅衬底图案化和清洁
图 6:硅晶圆图案化掩模布局 (A) 和单图案芯片 (B)。请点击此处查看此图的放大版本。
图7:基底孔隙化过程(硅阳极氧化)的照片。 (a) PC控制的恒电位仪连接到双电极电化学电池。(b) 带铂电极的电化学电池。(c) 具有多孔硅层的硅芯片。 请点击此处查看此图的放大版本。
3. Mac-Imprinting 设置
图8:Mac-压印设置(A),与硅芯片接触之前(B)和之后(C)的图章的照片。请点击此处查看此图的放大版本。
为了研究Mac-Imprint邮票和印迹Si表面的形态特性,获得了扫描电子显微镜(SEM)图像,光学显微镜扫描(图9)和原子力显微镜(AFM)扫描(图10)。将压印固体Si的横截面轮廓与所用多孔金印章的横截面轮廓进行比较(图10)。在Mac-Imprint过程中,图案转移保真度和多孔Si生成是分析实验成功的两个主要标准。如果 Mac 印记图案被准确地转移到 Si 上,并且在 Mac 印记期间不会产生多孔 Si,则 Mac 印记被认为是成功的。次优实验的结果(即,在Mac-Imprint期间缺乏图案转移保真度以及多孔Si生成)如图9a(左)所示。
图9:代表性结果: (a)固体硅和多孔硅的Mac印记具有固体金膜(分别为左侧和中间)和具有多孔金膜的固体Si(右)。(b) 具有不同孔体积分数(上图)和相应印记硅形态的多孔金膜的自上而下的SEM图像(下图)。(c) Mac-Imprint制作的各种图案的扫描电镜图像。此图经许可转载9,20。 请点击此处查看此图的放大版本。
图10:带有多孔金印章的固体Si Mac印记的代表性结果: (a)多孔金印章(左)和压印固体硅(右)的AFM扫描和(b)多孔金印章(蓝色)和压印固体硅(红色)的覆盖横截面轮廓。此图经许可转载20。 请点击此处查看此图的放大版本。
补充图1:旋转涂布机控制显示的照片。请点击此处查看此图的放大版本。
补充图2:磁控溅射控制软件截图。 (a) 磁控溅射室的抽真空。(b) 溅射控制参数。(c) 磁控溅射室通风。 请点击此处查看此图的放大版本。
补充图3:恒电位仪控制软件截图。请点击此处查看此图的放大版本。
补充图4:直线电机载物台和称重传感器控制软件截图。 (a) 在 Mac 版本之前和 (b) 在 Mac 版本印刷期间。 请点击此处查看此图的放大版本。
补充图5:Mac-压印邮票到PTFE杆连接过程的照片。请点击此处查看此图的放大版本。
分别根据协议的第1节和第2节制作了Mac印记印章和预图案硅芯片(p型,[100]方向,1-10欧姆∙cm)。根据协议的第3节执行带有包含3D分层图案的邮票的预图案Si芯片的Mac-Imprint(图9)。如图9a所示,应用了Mac-Imprint的不同构型:固体硅与固体金(左),多孔硅与固体金(中间)9,固体硅与多孔金(右)20。在第一种情况下,反应物的扩散被阻断,导致印迹的Si的非局部蚀刻和部分孔化,这与常规MACE工艺中的相同问题相关22,23。然而,当通过多孔网络(嵌入在Si或Au中)实现扩散时,观察到高模式转移保真度,这导致Mac-Imprint是一个质量传输依赖过程的结论。此外,印有的Si表面在印有多孔Au后被粗糙化(图9a,右)。
有人提出,表面粗糙化源于所用多孔金的孔隙率。为了验证该假设,根据协议的第1.4和1.5节创建了一系列具有各种受控孔体积分数(PVF)的多孔Au层,随后用于Mac-Imprint(图9b)20。观察到邮票的PVF与印记Si表面粗糙度之间的直接关系,支持了这一假设。此外,在具有低PVF印章的Mac-Imprint之后,Si被孔隙化,这可以通过未发育的多孔Au结构阻碍ES扩散来解释,导致蚀刻front20的离域化。因此,发达且相互连接的多孔结构对于Mac-Imprint期间的高图案传输保真度至关重要。此外,当多孔Au层已经具有相互连接的多孔网络时,在中等PVF下观察到印迹Si孔隙化。这可以归因于Au和Si表面积之间的高比率以及随后向Si注入过多的孔,这也导致蚀刻前部离域,从而导致多孔Si形成20。该过程可以通过仔细调整ES中的HF和H2O2比率来控制。
多孔Au邮票的实现以及ES成分变化允许通过Mac-Imprint制造各种3D分层图案,这些图案以前在Azeredo等人9和Sharstniou等人的作品中发表(图9c)。
对多孔Au/Si界面化学的进一步研究,特别是PVF相关的蚀刻速率和定位,以及压印系统的改进,将有助于使Mac-Imprint工艺适合未来的工业规模应用。
我们没有任何要披露的内容。
我们感谢Keng Hsu博士(路易斯维尔大学)对这项工作的见解;伊利诺伊大学弗雷德里克·塞茨实验室(Frederick Seitz Laboratory)和工作人员斯科特·麦克拉伦(Scott Maclaren)在纪念中;亚利桑那州立大学LeRoy Eyring固态科学中心;和比斯格罗夫学者奖下的亚利桑那州科学基金会。
Name | Company | Catalog Number | Comments |
Acetone, >99.5%, ACS reagent | Sigma-Aldrich | 67-64-1 | CAUTION, chemical |
Ammonium fluoride, >98%, ACS grade | Sigma-Aldrich | 12125-01-8 | CAUTION, hazardous |
Ammonium hydroxide solution, 28-30%, ACS reagent | Sigma-Aldrich | 1336-21-6 | CAUTION, hazardous |
AZ 400K developer | Microchemicals | AZ 400K | CAUTION, chemical |
BenchMark 800 Etch | Axic | BenchMark 800 | Reactive ion etching |
Chromium target, 2" x 0.125", 99.95% purity | ACI alloys | ADM0913 | Magnetron sputter chromium target |
CTF 12 | Carbolite Gero | C12075-700-208SN | Tube furnace |
Desiccator | Fisher scientific Chemglass life sciences | CG122611 | Desiccator |
F6T5/BLB | Eiko | F6T5/BLB 6W | UV bulb |
Gold target, 2" x 0.125", 99.99% purity | ACI alloys | N/A | Magnetron sputter gold target |
Hotplate KW-4AH | Chemat Technology | KW-4AH | Leveled hotplate with uniform temperature profile |
Hydrofluoric acid, 48%, ACS reagent | Sigma-Aldrich | 7664-39-3 | CAUTION, extremly hazardous |
Hydrogen peroxide, 30%, ACS reagent | Fisher Chemical | 7722-84-1 | CAUTION, hazardous |
Isopropyl alcohol, >99.5%, ACS reagent | LabChem | 67-63-0 | CAUTION, chemical |
MLP-50 | Transducer Techniques | MLP-50 | Load cell |
Nitric acid, 70%, ACS grade | SAFC | 7697-37-2 | CAUTION, hazardous |
NSC-3000 | Nano-master | NSC-3000 | Magnetron sputter |
Potassium hydroxide, 45%, Certified | Fisher Chemical | 1310-58-3 | CAUTION, chemical |
Rocker 800 vacuum pump, 110V/60Hz | Rocker | 1240043 | Oil-free vacuum pump |
Silicon master mold | NILT | SMLA_V1 | Silicon chip with pattern |
Silicon wafers, prime grade | University wafer | 783 | Si wafer |
Silver target, 2" x 0.125", 99.99% purity | ACI alloys | HER2318 | Magnetron sputter silver target |
SP-300 | BioLogic | SP-300 | Potentiostat |
SPIN 150i | Spincoating | SPIN 150i | Spin coater |
SPR 200-7.0 positive photoresist | Microchem | SPR 220-7.0 | CAUTION, chemical |
Stirring hotplate | Thermo scientific Cimarec+ | SP88857100 | General purpose hotplate |
SU-8 2015 negative photoresist | Microchem | SU-8 2015 | CAUTION, chemical |
SYLGARD 184 Silicone elastomer kit | DOW | 4019862 | CAUTION, chemical |
T-LSR150B | Zaber Technologies | T-LSR150B-KT04U | Motorized linear stage |
Trichloro(1H,1H,2H,2H-perfluorooctyl)silane (PFOCS), 97% | Sigma-Aldrich | 78560-45-9 | CAUTION, hazardous |
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