Рентгеновская дифракция в порошок по сохранению науки: На пути к Обычной кристаллической структуры Определение продуктов коррозии на наследие предметов искусства

Modern high resolution X-ray powder diffraction (XRPD) in the laboratory is used as an efficient tool to determine crystal structures of long-known corrosion products on historic objects.

Определение кристаллической структуры и процесса уточнения продуктов коррозии на исторических предметов искусства с использованием лабораторного высокого разрешения рентгеновской порошковой дифракции (XRPD) представлена ​​в деталях с помощью двух тематических исследований.

Первый исследуемый материал был меди Формиат натрия оксид гидроксид гидрат, Cu ₄ Na ₄ O (НСОО) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O (образец 1) , который образует на натриевое стекло / медный сплав композитных исторических объектов (например, эмалей) в музейных коллекциях, подвергаются воздействию формальдегида и муравьиной кислоты , излучаемого из шкафов деревянные хранения, клеи и т.д. Это явление деградации недавно были охарактеризованы как "стеклянном индуцированные коррозии металла".

Для второго кейса, thecotrichite, Са ₃ (СН ₃ СОО) ₃ Cl (NO _{3) 2} ∙ 6H ₂ O (пример 2), был выбран, который является цветущийсолеобразующий иглообразным кристаллиты на плитки и объектов известняка, которые хранятся в деревянных шкафах и витринах. В этом случае древесина действует как источник для уксусной кислоты, который вступает в реакцию с растворимыми хлориды и нитраты солей из артефакта или его среды.

Знание геометрической структуры помогает сохранению науки, чтобы лучше понять и распада реакции и обеспечить возможность полного количественного анализа в частом случае смесей.

наука Сохранение применяет научные (часто химические) методы сохранения артефактов. Это включает в себя исследования производства артефактов ( "История технического искусства": Как это было сделано в то время?) И их пути распада в качестве предварительного условия для разработки надлежащего лечения сохранения. Часто эти исследования имеют дело с металлическими органические соли, такие как карбонаты, формиаты и ацетаты. Некоторые из них были намеренно изготовлены с использованием подходящих соединений (например, уксус), другие вытекают из ухудшения реакции с атмосферой (двуокись углерода или карбонильных соединений от загрязнения воздуха внутри помещений) ^1. В самом деле, кристаллические структуры многих из этих материалов коррозии до сих пор неизвестны. Это прискорбный факт, так как знание геометрической структуры помогает сохранению науки, чтобы лучше понять и распада реакции и обеспечить возможность полного количественного анализа в случае смесей.

При условии, что материал представляет интерес формирует монокристаллы достаточного размера и качества, монокристалл дифракция является методом выбора для определения кристаллической структуры. Если эти граничные условия не выполняются, порошковой дифракции является ближайшим альтернативой. Самым большим недостатком порошковой дифракции по сравнению с монокристаллической дифракции заключается в потере ориентационной информации обратной d -векторных D * (вектора рассеяния). Другими словами, интенсивность одного дифракционного пятна размазывается по поверхности сферы. Это можно рассматривать как проекцию трехмерной дифракции (= обратная) пространства на одной размерной 2 & thetas оси дебаеграммой. Как следствие, векторы различного направления , но равной или одинаковой длины рассеяния, перекрываются систематически или случайно , что делает его трудным или даже невозможным отделить эти отражения ² (Figure 1). Это также является основной причиной , почему порошковой дифракции, несмотря на раннем изобретении всего через четыре года после того, как первый монокристалл эксперимент ^3,4, в основном используется для идентификации фазы и количественной оценки для более чем половины столетия. Тем не менее, информационное содержание дебаеграммой огромен , как можно легко вывести из рис 2. Реальная проблема, однако, выявить как можно больше информации , как это возможно в обычном пути.

Важнейшим шагом к достижению этой цели, без всякого сомнения, была идея от Hugo Ритвельдом в 1969 году ⁵ , который изобрел локальный метод оптимизации для уточнения кристаллической структуры из порошковых дифракционных данных. Метод не более точного одиночные интенсивности, но весь образец порошка против модели возрастающей сложности, таким образом, принимая пик перекрытия внутренне во внимание. С этого времени, ученые с помощью методов дифракции порошка не были больше не ограничены анализа данных бу методы, разработанные для одного расследования кристаллов. Через несколько лет после изобретения метода Ритвельда, сила метода дифракции порошка для определения структуры аб-первых принципов была признана. В настоящее время почти все отрасли естественных и технических наук использование порошковой дифракции для определения более и более сложных кристаллических структур, хотя этот метод не может еще рассматриваться как рутину. В течение последнего десятилетия, новое поколение порошковых дифрактометрах в лаборатории была разработана обеспечивая высокое разрешение, высокую энергию и высокую интенсивность. Лучше разрешение немедленно приводит к лучшему пика разделения в то время как более высокие энергии бороться поглощения. Преимущество лучшего описания пика профиля на основе фундаментальных физических параметров (рисунок 3) более точные интенсивности брэгговского отражения позволяет проводить более детальных структурных исследований. С помощью современного оборудования и программного обеспечения даже микроструктурные параметры, такие как размеры доменов и microstraв которые обычно выводятся из порошковой дифракции данных.

Все алгоритмы определения кристаллической структуры из данных дифракции порошка используют одиночный пик интенсивности, весь образец порошка или комбинация обоих. Традиционные монокристаллические взаимные методы пространства часто терпят неудачу из-за неблагоприятного соотношения между имеющимися наблюдениями и структурными параметрами. Эта ситуация резко изменилась с введением "заряда" листать техника ⁶ (рисунок 4) , а также разработки глобальных методов оптимизации в прямом пространстве, из которых моделируемый метод отжига ⁷ (рисунок 5) является наиболее известным представителем. В частности, введение химических знаний в процессе определения структуры твердых тел с использованием или известные соединения молекулярных соединений относительно длин связей и углов сильно уменьшает количество необходимых параметров. Другими словами, вВместо трех позиционных параметров для каждого отдельного атома, только внешние (и несколько внутренних) степеней свободы групп атомов должны быть определены. Именно это уменьшение структурной сложности, что делает метод порошка реальной альтернативой одного анализа кристаллов.

Два пионерские тематические исследования авторов ^8,9 доказали , что можно решать сложные кристаллические структуры сложных продуктов коррозии с использованием данных порошковой дифракции. Превосходство кристаллографических исследований по сравнению с другими подходами была продемонстрирована среди прочего и тем, что в обоих случаях сообщаемые формулы должны были быть исправлены после рассмотрения решенные кристаллических структур.

Появление обоих материалов под следствием в музеях связана с их хранением в деревянных шкафах или подвергается воздействию других источников карбонильных загрязнителей. Первый исследуемый материал был натрия формиата меди оксид-гидроксид гидрате, Cu ₄ Na ₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O (образец 1), который образует на натриевое стекло / медный сплав композитных исторических объектов (например, эмалей) в музейных коллекциях, подвергаются воздействию формальдегида и муравьиной кислоты из деревянных шкафов для хранения, клеев и т.д.. Это явление деградации в последнее время характеризуется как "стекло индуцированные коррозии металла" ^10. Во втором случае исследования, thecotrichite, Ca ₃ (CH ₃ COO) ₃ Cl (NO _{3) 2} ∙ 6H ₂ O (образец 2), был выбран. Thecotrichite это часто наблюдается цветущий солеобразующий иглообразным кристаллиты на плитки и известняка музейных предметов, которые хранятся в дубовых шкафах и витринах. В этом случае древесина действует как источник для уксусной кислоты, который вступает в реакцию с растворимыми хлориды и нитраты солей из артефакта.

В следующей части текста, отдельных этапов структуры дetermination процесса дифракции данных с использованием порошка, применяемые к коррозии изделий из сохранения науки представлены в деталях.

1. Подготовка образцов

1. Сбор материала
   1. Тщательно выбрать небольшое количество (менее 1 мг) образца 1 под цифровым микроскопом с помощью скальпеля и пинцета от настроек непрозрачных сине-зеленых кабошон на историческом застежке, принадлежащих к коллекции Rosgartenmuseum Констанц (РМК-1964,79) ( Рисунок 6).
   2. Тщательно поцарапать несколько мг образца 2 скальпелем с поверхности керамической глазурованной плитки, знакомства в ранние современные времена, изготовленных в Южной Германии, с размерами 41 х 29 х 3,5 см, а также часть коллекции Landesmuseum Вюртемберге ( нет. E 3004) (рисунок 7).
      Примечание: Плитка хранили с 1980-х до 2004 года в деревянных шкафах. Задняя сторона сильно страдает thecotrichite высолов , наступающее в фазе чистого продукта (рис 7б).
2. Подготовка держателей образцов
   1. Измельчите оба стщательно amples с пестиком в небольшой агатовой ступке.
   2. Распределить образец 1, который состоит из нескольких агломерированных зерен (<1 мг), между двумя прозрачными полиимидными пленками тонких рентгеновских и смонтировать их на держателе образца передачи с центральным отверстием диаметром 8 мм. Закрепите держатель образца передачи на Q-окружности дифрактометра.
   3. Заполнить образец 2 (прибл. 5 мг) в боросиликатного стеклянного капилляра диаметром 0,5 мм.
      1. Для этого нанесите небольшое количество порошка в воронку капилляра с помощью шпателя. Затем переместить порошок вниз к кончику капилляра с помощью электрического вибратора. Компактность порошок, поместив капилляр в толстостенную стеклянную трубку и нажмите его вручную на столе.
      2. Продолжайте, пока высота заполнения около 3 см не будет достигнута. Отрежьте стеклянный капилляр на высоте примерно 4 см, используя тонкую корунд лезвие и запечатать открытый конец с помощью зажигалки.
      3. Поместите небольшое количествопчелиный воск в открытии латунной штифта и растопить его с помощью паяльника. Затем поместите капилляр в расплавленный воск и держать его в вертикальном положении до затвердевания. Установите латунный штифт на гониометра голову и зафиксировать голову гониометра на Q-окружности дифрактометра.
      4. И, наконец, центр смонтированный капилляра итеративно совместив четыре степени свободы головки гониометра (два оборота с использованием гибочные слайдов и два перевода с использованием XY этапов перевода) вручную с помощью ключа, поддерживаемого цифровой проекции камеры с наложенными перекрестие.

2. Сбор данных

1. Для лаборатории XRPD образцов образцов 1 (рисунок 8) и 2 (рисунок 9) при комнатной температуре используют порошок дифрактометр высокого разрешения (с первичного пучка Иоганна типа Ge (111) монохроматора для K & alpha ; Cu - ₁ -излучение) , которые оснащена линейным позиционно-чувствительным сиLicon детектор полосы с отверстием около 12 ° 2 & thetas.
   1. Измерьте образец 1 в течение 20 часов в диапазоне от 5-85 ° 2 с шагом шириной 0,015 ° 2 в режиме передачи (режим сканирования: коробка передач; Тип сканирования: 2ThetaOmega; режим Omega: Moving; PSD Mode: Передвижение). Включите вращение на в целях достижения более точных статистических данных частиц.
   2. Образец записи 2 в течение 6 ч, охватывающий диапазон 5-60 ° в 2 & thetas с размером шага 0,015 ° в режиме Дебая-Шерера (режим сканирования: Дебая Шеррера; Тип сканирования: 2Theta; режим Omega: Стационарный; PSD режим: Перемещение). Включите вращение на в целях достижения более точных статистических данных частиц.

3. Кристаллический Определение структуры и уточнение

Примечание: Для определения и уточнения кристаллических структур образцов 1 и 2, комплекс компьютерная программа используется ^11. Это либо управляет графическим пользовательским интерфейсом или с помощью файла ввода текста на основеs. Последнее использование марка сложный язык сценариев. Пример входных файлов различных этапах структурного анализа с использованием образца 1 , приведены в таблицах S1, S2, S4-S8. Общая процедура идентична для образца 2.

1. Пик поиска
   1. Выполните автоматический поиск пика , используя первые и вторые производные Савицкого-Голея полиномами низкого порядка (рисунок 10) в соответствии с протоколом производителя, установив диапазон свернутые порядка 1-1.5 раза полуширина брэгговских отражений (0,12 ° 2 θ для образца 1), регулируя порог шума в 1,5-2 раза расчетное стандартное отклонение (1,74 для образца 1) и ограничивает поиск этой части узоров порошка, который четко показывают различимые пики (5-66 ° 2θ для образца 1) выше фона.
      1. Запустите программу, дважды щелкнув по значку. Нажмите Загрузка файлов сканирования. Тянутьменю Выбрать файлы данных XY (* .xy). Двойной щелчок по 1-ГНС-4145-P4-Kapton.xy.
      2. Расширить диапазон 1-GNM-4145-P4-Kapton.xy. Нажмите профиль выбросов | профиль нагрузки выбросов | CuK1sharp.lam.
      3. Нажмите кнопку Автоматически подставлять пики. Отключив функцию Удалить K-Alpha 2 Пикс. Установить ширину пика с ползунком до 0,12. Набор Noise Threshold с ползунком до 1.74. Нажмите кнопку Добавить Пикс. Нажмите Закрыть.
   2. Используйте интегрирующий свойство человеческого глаза и правильно вручную автоматически обнаруживаются пики, удалив не-Брэгга пики, которые, очевидно, из-за подсчета статистики и добавления пиков, которые являются узнаваемым, но скрыты в хвостах других пиков. Настройка индексирования файлов с наборами 30 до 40 отражений для каждого образца с помощью Standard настройки , но с учетом всех кристаллических систем (таблица S1).
      1. Увеличение с помощью мыши в шаблоне, используйте колесо мыши для прокрутки. Открыть окно Peak Детали, нажав F3. Установить пики, нажав левую кнопку мыши. Удалить пики, нажав клавишу F9. Закрыть окно Пик Подробности.
      2. Нажмите на этапе Пикс. Отметить все вершины желтые, нажав на позиции. Щелкните левой кнопкой мыши в желтом отмечен столбец. Нажмите Копировать все / выбор | Создать диапазон Indexing. Отмените выбор 1-GNM-4145-P4-Kapton.xy. Выбор диапазона индексирования. Выделить все решетки Браве (нажмите Использовать , чтобы выделить список и установить галочку).
         
2. индексирование
   1. Для индексации применять "итеративный использование сингулярного разложения" алгоритма ⁽¹² Таблица S2) до нахождения примитивной тетрагональной элементарной ячейки для образца 1 и примитивный моноклинную решетку для образца 2 (см таблицу 1 для параметров элементарной ячейки).
      1. Нажмите кнопку Run (F6). Нажмите Да , чтобы сохранить индексацию решения. Кнопка Пресс - Solutions. Выделите первое решение левой кнопкой 1 щелкнув. Щелкните правой кнопкой мыши на выделенном (желтый) раствора. Нажмите кнопку Копировать все / выбор. Отмените диапазон индексирование. Выбор диапазона 1-GNM-4145-P4-Kapton.xy.
         Примечание: Другие единичные клетки , показывающие высокую добротность у всех есть несколько томов , но все большего числа ненаблюдаемых отражений , по сравнению с теми , перечисленных в таблице 1 Программа автоматически предлагает наиболее вероятные пространственные группы , основанные на наблюдаемых вымираний отражения , которое является P 4. ₂ / п (86) для образца 1 и P 2 ₁ / Для образца 2 (рисунок 11).
   2. Подтвердите эти данные вручную с помощью функции поиска для вымираний используя Международные таблицы кристаллографии тома A ¹³ (таблица S3). Оцените число формульных единиц в элементарной ячейке с шагом средний объем до Z = 8 для образца 1 и Z = 4 для образца 2.
3. Весь образец порошка установки
   1. Выполнить весь образец порошка установки в соответствии с Pawley ¹⁴ для обоих образцов порошка. Для описания пиковых профилей, используют подход фундаментальным параметром (FP) ¹⁵ (рисунок 12). Модель фон ортогональными многочленами Чебышева более высокого порядка (как правило, 8) и дополнительно 1 / X члена, описывающего рассеяние воздуха при малых углах дифракции. Установите коэффициент Лоренц-поляризационного 27.3 , который является углом Брэгга для Ge (111) монохроматора с использованием Cu-K _{& alpha} ; ₁ rádiвания. Таблица S4 содержит все соответствующие входные параметры.
      1. Нажмите Add Hkl Phase. Расширить диапазон 1-GNM-4145-P4-Kapton.xy. Expand hkl_Phase. Нажмите Индексация Детали | детали Paste индексацию. Нажмите Фон. Изменить порядок 8 (Уточнить). Tick ​​1 / X BKG (УТОЧНИТЬ).
      2. Нажмите на инструменте. Установить первичный радиус (мм) до 217,5. Установить вторичный радиус (мм) до 217,5. Tick ​​точечный детектор. Tick ​​Получение Ширина щели, значение 0,1 (FIX). Tick ​​Полный аксиальной модели. Установка длины источника (мм) до 6 (FIX). Установить длину образца (мм) до 6 (х). Длина Установить RS (мм) до 6 (FIX).
      3. НажмитеИсправления. Tick ​​погрешность нуля, значение 0 (Уточнить). Tick ​​LP фактор, значение 27,3 (FIX). Нажмите Разное. Набор Конв. Шаги к 2. Tick ​​Start X, значение 8. Tick ​​Finish X, значение 75. Нажмите Пики Фаза | Удалить Пикс Фаза | Да.
      4. Нажмите hkl_Phase | микроструктурой. Tick ​​Cry размер L, значение 200 (Уточнить). Tick ​​Cry Размер G, значение 200 (Уточнить). Tick ​​Штамм L, значение 0,1 (Уточнить). Tick ​​Штамм G, значение 0,1 (Уточнить). Нажмите кнопку Run (F6).
   2. Создать список брэгговских пиков подходит дляCharge Flipping ^6. Нажмите hkl_Phase. Нажмите выход Charge листать. Tick ​​файл для CF, значение CF.A. Tick ​​Hkl файл для CF, значение CF.hkl. Нажмите кнопку Run (F6). Потяните вниз меню Файл | Экспорт в файл ИЯФ. Имя файла, значение Pawley.INP. Нажмите Сохранить.
      Примечание: Для последовательного определения структуры, сохранить все инструмент, пик формы и параметры решетки фиксированной.
4. Определение кристаллической структуры
   Примечание: Сочетание трех методов (используемых в итеративным способом) используется для определения кристаллических структур образцов 1 и 2.
   1. Во - первых, использовать метод начисления Flipping ⁶ поддерживается за счет включения касательного формулы ¹⁶ (рисунок 13) , чтобы найти позиции большинства тяжелых атомов. Удалить наблюдаемую рефс лекции D-интервал меньше, чем 1,28 (для образца 1) и расширить сферу рассчитанную на D-интервал 0,9. Все необходимые параметры приведены в таблице S5. Выберите атомы с узнаваемой электронной плотности из полученного списка, правильных ложно назначенных типов атомов аналогичной мощности рассеяния, как углерод, кислород или азот вручную.
      1. Сбросьте File File | Close All - Подтвердите, нажав кнопку Да. Потяните вниз Запуск Запуск | Запуск ядра.
      2. Потяните вниз Запуск Запуск | Set INP файл. Выберите CF.INP (полученный входной текстовый файл, перечислены в таблице S5). Подтвердите, нажав кнопку Открыть. Кнопка ип Нажмите R (F6). Нажмите кнопку STOP (F8) после прибл. 20000 циклов. Подтверждение Charge листать завершается нажатием Да.
      3. Нажмите Временный выходОкно отображения выбранных атомов в формате кнопки Z-матрицы. Диалог кнопку Параметры Нажмите Облако. Набор N выбрать до 45. Tick ​​С Symmetry. Нажмите кнопку Pick. Скопировать временный вывод и сохранить его в текстовый файл с именем FirstGuess.str. Закройте заряд листать графическое окно.
   2. Во- вторых, применять глобальный метод оптимизации моделируемого отжига ^7,17 (рисунок 14) , чтобы найти расположение всех недостающих неводородных атомов ( в основном атомы углерода формиат / ацетатных групп). Используйте автоматическую схему отжига, предусмотренной программным обеспечением. С учетом только масштабный множитель и позиционная и / или профессиональные параметры выбранных атомов к имитации отжига. Для образца 1, сливаются атомы натрия и кислорода в радиусе 1,1 Å , чтобы обнаружить специальные положения (таблица S6).
      1. Потяните вниз Запуск Запуск | Установить INP файл. Выберите SA.INP (полученный входной текстовый файл, перечислены в таблице S6). Подтвердите, нажав кнопку Открыть. Нажмите кнопку Run (F6). Нажмите кнопку STOP (F8) после нескольких тысяч циклов. Подтверждение входного файла обновления, нажав Да.
   3. В- третьих, отключить имитацию отжиг и переключиться на режим Ритвелд ⁵ уточнения закомментировав команду Auto_T (0.1). Устранить все подтвержденные позиционные параметры. Включить вычисление карты дифференциально-Фурье (F _набл -F _{известково)} (Рисунок 15, Таблица S7) для проверки неучтенных электронной плотности. Включить дополнительно найденные атомы в списке атомов и уточнить атомные позиции и заселенности.
      1. Потяните вниз Запуск Запуск | Set INP файл. Выберите Fourier_search_for_C.INP (полученноготекстовый файл ввода, перечислены в таблице S7). Подтвердите, нажав кнопку Открыть. Нажмите кнопку Run (F6). Проверьте два графического вывода окна, отображающие почти полную кристаллическую структуру, а разница Фурье карту.
         Примечание: Цикл три методы решения структуры итеративно в случае неудачи. При необходимости, применять анти ограничения натыкаясь на легких атомов (атомы углерода и кислорода) (см S7).
5. Ритвельда
   1. Для получения окончательных уточнений кристаллической структуры образцов 1 и 2, использовать весь узор-метод уточнения Rietveld ⁵ (рисунок 16). Для того, чтобы избежать бессмысленных атомных смещений атомов в кислоте и нитратных групп уксусной образца 2, так называемые нанимать мягкие ограничения (называемые также удерживающие устройства) на основе идеализированных длин связей и углов. Вычислить идеализированные позиции недостающих атомов водорода с использованием стандартных обновлявляются ¹⁸ (таблица S8).
   2. Уточнить параметры изотропных атомных смещений для неводородных атомов каждого кристаллической структуры. В случае образца, две модели кажущаяся анизотропия ширины брэгговских отражений, вызванных микронап- путем включения симметрии адаптированный сферические гармоники второго порядка.
   3. Наконец создавать участки проекций кристаллических структур образца 1 (рисунок 17) и образца 2 (рисунок 18) и двух кристаллографических информационные файлы (CIFS) , которые отныне могут быть использованы для полного количественного фазового анализа. Примером такого полного количественного анализа приведен на рисунке 19 , используя кристаллическую структуру образца 1.

Высокое разрешение РПД был использован для определения неизвестных ранее кристаллические структуры двух давно известных продуктов коррозии на исторических объектах. Образцы были взяты из двух музейных предметов и тщательно отшлифованы , прежде чем они были запечатаны в держателях передачи и капиллярный образец (фиг.6, 7). Стандартные измерения с использованием состояния искусства лаборатории высокого разрешения дифрактометра порошка в передаче и Дебая-Шерера геометрии с использованием монохроматических рентгеновских лучей были выполнены (рисунок 8).

Стандартизированная процедура определения структуры из порошковой дифракции данных была разработана с использованием недавно разработанных высокоэффективных алгоритмов в следующем порядке: Определение положения пиков (рисунок 10), индексации и определения пространственной группы (рисунок 11), в целом картина порошка установки (рисунок 12 ), определение структуры (рис 13-15), и Ритвельда (рисунок 16). Кристаллическая структура определение обоих соединений проводили путем итеративного объединения взаимными (заряда листать) (рисунок 13) и прямое пространство (моделируемый отжиг) (Рисунок 14) методы анализа с дифференциально-Фурье (рисунок 15).

Определение кристаллических структур этих соединений (рис 17, 18) улучшает наше понимание механизмов распада и обеспечивает полный количественный фазовый анализ (рисунок 19) продуктов коррозии.

Рисунок 1. Порошковая дифракция в обратном пространстве. Иллюстрация области обратного пространства, доступного в порошке измерение. Чем меньше окружность представляет собой сферу Эвальда. В измерении порошка обратная решетка поворачивается к образцу всех ориентаций. Эквивалентная операция, чтобы повернуть сферу Эвальда во всех возможных направлениях вокруг начала координат обратного пространства. Объем заметаемое (область на рисунке) является область обратного пространства , доступной в эксперименте. ²

Рисунок 2. Содержание Информация о шаблоне порошка. Схематическое изображение информационного содержания порошковой дифракционной картины с четырьмя главными вкладами фона, положение пика, пика интенсивности, и пик профиля. ² Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.

3 цифра "SRC =" / файлы / ftp_upload / 54109 / 54109fig3.jpg "/>
Рисунок 3. Pawley припадок. Pawley сухое цельное образец припадок порошка картины стандарта LaB ₆ , измеренной с Мо-K _{& alpha} ; ₁ излучения (λ = 0,7093 Å) от Ge (220) монохроматора в Дебая-Шерера геометрии с использованием фундаментального подхода параметра. Следующие четыре извилины были применены: чистый лоренцеву профиль излучения, функцию формы шлема приемной щели в экваториальной плоскости, осевой свертка принимая filament-, и получая ственном образце длины щели и вторичной Soller щели во внимание, и небольшой Gaussian вклад , связанный с позиционно - чувствительным детектором. ¹⁹ Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.

g4.jpg "/>
Рисунок 4. Схема зарядки листать. Подавать схема и блок-схема (как врезке) процедуры заряда листать в обратном пространстве, используемой для определения структуры из порошковых дифракционных данных.

Рисунок 5. смоделированные схемы отжига. Технологическая схема моделируемой процедуры отжига в прямом пространстве , используемого для определения структуры из порошковых дифракционных данных. ¹⁹

Рисунок 6. Происхождение образца 1. Исторический объект искусства несущий Cu ₄ Na ₄ O (НСОО) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O (пример 1). Исторический Застежка, принадлежащий коллекции Rosgartenmuseum Констанц (РМК-1964,79).TTPS: //www-jove-com.remotexs.ntu.edu.sg/files/ftp_upload/54109/54109fig6large.jpg "целевых =" _blank "> Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.

Рисунок 7. Происхождение образца 2. Исторический объект искусства проведения Thecotrichite (образец 2). Thecotrichite на кафеле из коллекции Landesmuseum Вюртемберге (а) и его задней стенке (б) , покрытый белыми кристаллами thecotrichite. ⁹ Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.

Рисунок 8. Порошковая дифрактограмма образца 1. Снимок экрана , показывающий разбросанные интенсивности рентгеновского излучения Си ₄ Na₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O (образец 1) в условиях окружающей среды в зависимости от угла дифракции. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.

Рисунок 9. Порошковая дифрактограмма образца 2. Снимок экрана , показывающий разбросанные интенсивности рентгеновского излучения от thecotrichite (образец 2) в условиях окружающей среды, в зависимости от угла дифракции. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.

Рисунок 10. Поиск Пик для образца 1 Rong>. Снимок экрана , показывающий разбросанные интенсивности рентгеновского излучения от Cu ₄ Na ₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O и результаты алгоритма автоматического поиска пиков , используя первую и вторую производные Савицкого-Голея сглаживающих фильтров. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть большую версию этой фигуры.

Рисунок 11. Результаты индексирование для образца 1. Снимок экрана , показывающий результаты определения группы индексации и пространства для Cu ₄ Na ₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть большую версию этой фигуры ,

Рисунок 13. Заряд листать образца 1. Снимок экрана во время процесса определения структуры для Cu ₄ Na ₄ O (НСОО) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O в пространственной группе Р 4 ₂ / N с использованием метода заряда листать с гистограммой соответствия. Часть кристаллической структуры с предписанными типами атома Alготовы видеть. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.

Рисунок 14. моделируемый отжиг для образца 1. Снимок экрана во время процесса определения структуры для Cu ₄ Na ₄ O (НСОО) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O в пространственной группе Р 4 ₂ / N при помощи глобального метода оптимизации моделируемого отжига , Часть кристаллической структуры уже видна. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.

Рисунок 15. Difference анализ Фурье для образца 1. снимок экрана поиска пропавших без вести атомов в процессе определения структуры для Cu ₄ Na ₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O в пространственной группе P 4 ₂ / п , используя разностный метод Фурье. Кристаллическая структура как и дополнительная электронная плотность отложена. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.

Рисунок 16. Ритвелд прилегание образца 1. Снимок экрана , показывающий Ритвельда участок Cu ₄ Na ₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O в пространственной группе P 4 ₂ / л. Наблюдаемая картина (синий), лучшие профили Ритвелд подходят (красный) , а разница между кривой наблюдаемой и расчетных профилей (ниже серым цветом) показаны. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.

Рисунок 17. Кристаллическая структура образца 1. Проекция кристаллической структуры Cu ₄ Na ₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O вдоль кристаллографической с Оу. Многогранники , содержащий медь и натрий , как центральные атомы притягиваются. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.

Ong> Рисунок 18. Кристаллическая структура образца 2. Проекции кристаллической структуры thecotrichite, представлены (а) вдоль с оси х и (б) по б оси абсцисс. Полиэдры цвета: Ca1: пурпурные, Са2: голубой Ca3: зеленый. ⁸ Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.

Рисунок 19. Количественный анализ , содержащий образец 1. Ритвелд участок полного количественного фазового анализа из образца от коррозии , содержащей Cu ₄ Na ₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O в качестве основной фазы и Cu ₂ (OH) ₃ (HCOO) и Cu ₂ O в качестве второстепенных фаз./54109fig19large.jpg "Целевых =" _blank "> Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы посмотреть увеличенную версию этой фигуры.

Таблица 1. Отдельные кристаллографические и структурные детали Cu ₄ Na ₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O и Ca ₃ (CH ₃ COO) ₃ Cl (NO _{3) 2} ∙ 6H ₂ O (thecotrichite).

Дополнительные таблицы

Таблица S1. Входной файл после пика поиска Cu ₄ Na ₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O (только 1 пик отображается в списке пика). Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы загрузить этот файл.

Таблица S2. Входной файл для индексации Cu ₄ Na ₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы загрузить этот файл.

Таблица S3. Список условий для отражения тетрагональных пространственных групп из Международных таблиц по кристаллографии тома А. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы загрузить этот файл.

Таблица S4. Inpут - файл для всей дебаеграммой подгонки по методу Pawley из Cu ₄ Na ₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O (только несколько брэгговские отражения показаны в списке пика). Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы скачать этот файл ,

Таблица S5. Входной файл для заряда подбрасывания Cu ₄ Na ₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы загрузить этот файл.

Таблица S6. Входной файл для моделирования отжига Cu ₄ Na ₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы загрузить этот файл.

Таблица S7 входного файла для анализа разницы Фурье Cu ₄ Na ₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O.. Пожалуйста , нажмите здесь чтобы загрузить этот файл.

Таблица S8. Входной файл для окончательного Ритвельда из Cu ₄ Na ₄ O (HCOO) ₈ (OH) ₂ ∙ 4H ₂ O. Пожалуйста , нажмите здесь , чтобы загрузить этот файл.

XRPD is a suitable technique for conservation research as it is non-destructive, fast and easy-to-use. XRPD data can be used in routine qualitative analysis, owing to the fact that the powder pattern is a fingerprint signature to the corresponding crystal structure. The biggest advantage of XRPD over other analytic techniques is the ability of performing simultaneous qualitative and quantitative analysis of crystalline constituents in mixtures by using the Rietveld refinement method⁵. Moreover, the presence of amorphous content can be detected and its amount estimated. However, this procedure requires knowledge on every crystal structure present in the mixture that is a subject to investigation.

To apply the method of XRPD routinely for structure determination to conservation science, several critical boundary conditions for the laboratory powder diffractometer must be fulfilled: 1.) To avoid preferred orientation in powder samples, transmission or even better Debye-Scherrer geometry must be used. 2.) Laboratory powder diffractometers should be equipped with a primary beam monochromator to ensure strict monochromatization and a position sensitive strip detector for high intensity (= good counting statistics) and high resolution. This particular type of instrument leads to sharp peak profiles which can be adequately described by few fundamental parameters being of great benefit for the separation of overlapping reflections.

Indexing of the powder pattern which is often regarded as the bottleneck in the structure determination process should be done with exhaustive methods like "singular value decomposition", which is also insensitive to small amounts of impurities. Due to the strongly reduced information content of a powder pattern as compared to a single crystal data set, a sophisticated combination of direct and reciprocal space structure determination algorithms is needed for a high success rate. The combination of charge flipping, simulated annealing and difference-Fourier analysis has been proven to be among the most promising approaches. Providing that the material under investigation is reasonably crystalline, crystal structures with 20-25 structural parameters can nowadays been solved almost routinely from powder diffraction data if the procedure described above is used. It can be expected that this limit can be pushed to much more complex crystal structures with the advent of better instrumentation, the use of synchrotron radiation, and even more sophisticated structure determination algorithms.

Even after 250 (!) years of conservation research and 100 years of crystal structure analysis, there are still many crystalline corrosion products on artifacts of unknown exact composition and structure. This is mainly due to the unavailability of naturally or synthetically grown single crystals of suitable size. XRPD data analysis as described here can overcome this restriction since powder samples are amenable to investigation. A quantum leap forward in Conservation Science as well as in other fields!

The authors have nothing to disclose.

Авторы выражают благодарность г-жа Кристин Stefani для выполнения измерений XRPD. Мариан Шух и Ревекка Kuiter (государственная академия искусств и дизайна Штутгарт) признаются для картин плитки (рис. 7).