Войдите в систему

Зондирование C

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

11.6K Views

•

13:58 min

•

September 28th, 2016

DOI :

10.3791/54235-v

September 28th, 2016

•

Mon-Shu Ho¹, Chih-Pong Huang², Jyun-Hwei Tsai³, Che-Fu Chou¹, Wen-Jay Lee³

¹Department of Physics and Institute of Nanoscience, National Chung Hsing University, ²Metallurgy Section, Materials & Electro-Optics Research Division, National Chung-Shan Institute of Science and Technology, ³National Center for High-Performance Computing

Резюме

Смотреть дополнительные видео

115

C 84

Главы в этом видео

0:05

Title

1:21

Fabrication of Hexagonal-closed-packaged (HCP) Overlayer of C₈₄ in Si Substrate

2:57

Measurements of Electronic Properties of C₈₄-embedded Si Substrate

5:07

Measurements of Surface Magnetism

6:17

Measurements of Nanomechanical Properties by AFM

6:49

Measurement of Nanomechanical Properties by Molecular Dynamics Simulation

11:05

Results: Characterization of C₈₄-embedded Silicon Substrate by Nanomeasurements and Molecular Dynamic Simulation

12:46

Conclusion

Похожие видео

15:08

Исследование и картирование поверхности электродов в ТОТЭ

15.8K Views

10:53

Сканирующего зонда Одноэлектронные емкостной спектроскопии

13.0K Views

11:42

Изготовление ворот-перестраиваемых графена устройств для сканирующей туннельной микроскопии исследований с кулоновских примесей

15.3K Views

10:42

В Depth Анализы светодиодов с помощью комбинации рентгеновской компьютерной томографии (КТ) и световой микроскопии (LM) коррелируют с сканирующей электронной микроскопии (SEM)

9.2K Views