JoVE Logo

Sign In

גשוש C

11.7K Views

13:58 min

September 28th, 2016

DOI :

10.3791/54235-v

September 28th, 2016


Explore More Videos

115

Chapters in this video

0:05

Title

1:21

Fabrication of Hexagonal-closed-packaged (HCP) Overlayer of C84 in Si Substrate

2:57

Measurements of Electronic Properties of C84-embedded Si Substrate

5:07

Measurements of Surface Magnetism

6:17

Measurements of Nanomechanical Properties by AFM

6:49

Measurement of Nanomechanical Properties by Molecular Dynamics Simulation

11:05

Results: Characterization of C84-embedded Silicon Substrate by Nanomeasurements and Molecular Dynamic Simulation

12:46

Conclusion

Related Videos

article

10:53

ספקטרוסקופיה קיבוליות חד אלקטרונים סורקות-בדיקה

13.0K Views

article

09:48

חוקר מולקולה בודדת הדבקה על ידי הכוח האטומי ספקטרוסקופיה

10.3K Views

article

11:00

יד מבוקרת מניפולציה של יחיד מולקולות באמצעות סריקת הבדיקה במיקרוסקופ עם ממשק מציאות 3D Virtual

9.0K Views

article

09:52

חיטוט את המבנה ואת הדינמיקה של נוקליאוזומים באמצעות הדמיה מיקרוסקופ כוח אטומי

11.6K Views

article

07:15

שיטה חדשה עבור

9.1K Views

article

11:33

כל-אלקטרונית ננו-נפתרה סריקה מינהור מיקרוסקופיה: הקלת החקירה של דינמיקה תשלום יחיד Dopant

9.4K Views

article

12:58

אפיון מצרפים לחלבונים בודדים ע י ננו-ספקטרוסקופיה אינפרא-אדום ומיקרוסקופ כוח אטומי

9.7K Views

article

08:31

פעילות אלקטרוכימית משטח תבוצע של ננו-חומרים באמצעות מיקרוסקופ אלקטרוכימי של כוח אטומי היברידי (AFM-SECM)

6.7K Views

article

08:18

הדמיה מיקרוסקופית של ננוגרפים נקבוביים מסונתזים באמצעות שילוב של תמיסה וכימיה על פני השטח

1.6K Views

article

08:18

הדמיה מיקרוסקופית של ננוגרפים נקבוביים מסונתזים באמצעות שילוב של תמיסה וכימיה על פני השטח

1.6K Views

JoVE Logo

Privacy

Terms of Use

Policies

Research

Education

ABOUT JoVE

Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. All rights reserved