sondagem C
11.6K Views
•
13:58 min
•
September 28th, 2016
DOI :
September 28th, 2016
•Capítulos neste vídeo
0:05
Title
1:21
Fabrication of Hexagonal-closed-packaged (HCP) Overlayer of C84 in Si Substrate
2:57
Measurements of Electronic Properties of C84-embedded Si Substrate
5:07
Measurements of Surface Magnetism
6:17
Measurements of Nanomechanical Properties by AFM
6:49
Measurement of Nanomechanical Properties by Molecular Dynamics Simulation
11:05
Results: Characterization of C84-embedded Silicon Substrate by Nanomeasurements and Molecular Dynamic Simulation
12:46
Conclusion
Vídeos relacionados
Sondagem e Mapeamento superfície do eletrodo em células a combustível de óxido sólido
15.8K Views
-Sonda de varredura único elétron Espectroscopia de capacitância
13.0K Views
Fabricação de porta-ajustáveis dispositivos de grafeno para tunelamento estudos de microscopia com Coulomb Impurezas
15.3K Views
Em análises profundidade de LEDs por uma combinação de raios-X Tomografia Computadorizada (CT) e Microscopia de Luz (LM) correlacionada com Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV)
9.2K Views
Mão Controlado Manipulação de solteiro moléculas através de um Scanning Probe Microscope com uma interface de realidade virtual 3D
8.9K Views
Estudar processos dinâmicos de Nano porte Objects no líquido utilizando a Transmissão Microscopia Eletrônica de Varredura
12.6K Views
Precision Fresagem de Nanotubos de Carbono Florestas Usando Baixa Pressão Scanning Electron Microscopy
7.4K Views
Medições de carbono no solo por nêutrons-Gamma análise estática e modos de digitalização
7.2K Views
Todo-eletrônico nanossegundo-resolvido encapsulamento microscopia: Facilitar a investigação do Dopant única carga dinâmica
9.4K Views
Desenvolvimento de células solares de alta Performance GaP/Si Heterojunction
7.4K Views
Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. Todos os direitos reservados