走査型電子顕微鏡（SEM）と相関X線コンピュータ断層撮影（CT）および光学顕微鏡（LM）の組合せによるLEDの深さ分析で

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

9.2K Views

•

10:42 min

•

June 16th, 2016

DOI :

10.3791/53870-v

June 16th, 2016

•

Jörg Meyer¹, Christian Thomas¹, Frank Tappe¹, Tekie Ogbazghi¹

¹Department Lippstadt, Hamm-Lippstadt University of Applied Sciences

要約

さらに動画を探す

112 X

この動画の章

0:05

Title

1:14

Performance of Computed Tomography (CT) Scan

3:07

Micro Preparation

5:06

Light Microscopy (LM) Measurement Setup

6:15

Light Microscopy Characterization

7:16

Scanning Electron Microscopy (SEM) Analysis

8:32

Results: Comprehensive Micro-characterization of an Active Light Emitting Diode

9:49

Conclusion

関連動画

10:00

個々のナノ粒子の3次元元素マッピングのためのエネルギー分散型X線トモグラフィー

11.7K Views

08:11

シンクロトロンベースのハードX線マイクロトモグラフィーを用いて電池の故障解析

8.8K Views

10:39

2次元チェッカーボード位相格子を使用して複数の方向に沿ってX線ビームコヒーレンスの測定

9.5K Views

10:18

シンクロトロン高速断層撮影法を使用した炭酸における反応の動的細孔スケール貯水池条件イメージング

8.4K Views

10:29

走査型透過電子顕微鏡を用いて、液体中にナノサイズのオブジェクトの動的プロセスを学びます

12.6K Views

08:10

低圧走査型電子顕微鏡を用いたカーボンナノチューブの森の精密フライス

7.4K Views

10:41

酸化アルミニウムの陰極の電子注入と部分的に導入することで純粋な青色量子ドット発光ダイオードの励起子閉じ込め

8.7K Views

10:12

・鉱物及び岩石試料の蛍光を放射光 x 線回折

8.9K Views

00:10

太陽電池のマルチモーダルX線顕微鏡検査におけるX線ビーム誘導電流測定

13.7K Views

07:00

紫外発光ダイオード用ナノパターンサファイア基板上のAlNフィルムのグラフェン支援準ファンデルワールスエピタキシー

7.1K Views