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Nanyang Technological Universityマルチスケール三次元マイクロエレクトロニクスパッケージを調査するために放射光マイクロトモグラフィーを用いて、
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April 13th, 2016
DOI :
April 13th, 2016
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この動画の章
0:05
Title
1:28
Steps for Performing Tomography Scans at Beamline 8.3.2 (ALS, LBNL)
4:02
Setting up the Scan Parameters Using the Data Acquisition Computer
4:54
Results: Multi-scale Features Imaged in an Entire Micro-electronic Package Using Synchrotron Radiation Microtomography
6:11
Conclusion
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