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Gezielte Studien mit serial Block Face und Focused Ion Beam Scan Electron Microscopy

Transkript

Hier präsentieren wir ein Protokoll zur effizienten Kombination von serieller Blockfläche und fokussierter Ionenstrahlelektronenmikroskopie für einen Interessenbereich. Dies ermöglicht eine effiziente Suche in drei Dimensionen und das Auffinden seltener Ereignisse in einem großen Sichtfeld.

Kapitel in diesem Video

0:04

Title

0:51

Sample Fixation and Processing for Electron Microscopy

3:51

Prepare Embedded Samples for Imaging

5:03

Imaging in the SBF-SEM (Serial Block Face Scanning Electron Microscopy) and Data Processing

6:22

Imaging in the FIB-SEM (Focused Ion Beam SEM)

7:49

Results: SBF-SEM and FIB-SEM Data

8:46

Conclusion

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