Sub-Nanometer Auflösung Belichtung mit Amplituden-Modulation der Rasterkraftmikroskopie in Liquid

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•

10:25 min

•

December 20th, 2016

DOI :

10.3791/54924-v

December 20th, 2016

•

Ethan J. Miller*¹, William Trewby*¹, Amir Farokh Payam¹, Luca Piantanida¹, Clodomiro Cafolla¹, Kislon Voïtchovsky¹

¹Physics Department, Durham University

Zusammenfassung

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Technik

Heft 118

Rasterkraftmikroskopie

fl ssig

Sub Nanometer Aufl sung Bildgebung

Kapitel in diesem Video

0:05

Title

0:59

Equipment and Substrate Preparation

2:39

Cantilever and Tip Preparation

3:22

Set-up of AFM Cell and Cantilever Calibration

4:27

Approach and Initial Check of the Sample

6:31

High-resolution Imaging

8:09

Results: Sub-nanometer Resolution Imaging of Soft and Stiff Samples

9:18

Conclusion

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