JoVE Journal
Engineering
Bu içeriğe aracılığıyla tam erişiminiz var
Nanyang Technological UniversityIşık Geliştirilmiş Hidroflorik Asit Pasifleme: Dökme Silikon Kusurları Tespit için Hassas Tekniği
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.
9.2K Views
•
09:15 min
•
January 4th, 2016
DOI :
January 4th, 2016
•Bu videodaki bölümler
0:05
Title
1:02
Cleaning and Etching the Silicon Wafers
4:08
Silicon Wafer Passivation and Photoconductive (PC) Measurement
7:08
Results: Silicon Wafer Photoconductive Measurement after Surface Passivation
8:10
Conclusion
İlgili Videolar
09:32
Plasmonic geliştirilmiş Işık-tutucu ile Polycrystalline Silikon İnce-film Solar hücreler
18.7K Views
08:28
Akustik Damlacık buharlaşması ve Bubble-gelişmiş Ultrason aracılı Ablasyon için dar Boyut Dağılımları ile Faz-shift Nanoemulsions sentezi
11.0K Views
09:45
Organofosfor Bileşikleri Kullanma Silikon Yüzeyler ve Nanotellerin monolayer İletişim Doping
7.6K Views
10:04
İleri Işık Source Alev Deneyler: İs Oluşumu Süreçlerinin içine Yeni Trendleri
12.8K Views
08:03
Öngörülü Çalışmaları Ölçeklenebilir Nanohelices ve Geliştirilmiş 3D Görselleştirme
10.4K Views
14:58
Tek elektron pompalayabilme için Silikon Metal-oksit-yarıiletken Kuantum Noktaları
14.4K Views
08:45
Transfer Baskı ile Hidrojene Mikrokristal Silikon Güneş Pilleri Işık Yakalama Gümüş Nanoyapıların Entegrasyonu
7.7K Views
07:32
Toplu Heterojonksiyonlar Solar Hücre Baskı İmalatı ve
10.2K Views
10:14
Fabrikasyon ve Acoustofluidic Cihazlarının Çalışma Parçacıkların yoğunlaşırken Sheathless için Toplu Akustik Daimi Dalgalar desteklenmesi
12.7K Views
12:19
Silikon Halka Rezonatörü Foton Kaynak Kuantum Girişim ölçümü
8.3K Views
JoVE Hakkında
Telif Hakkı © 2020 MyJove Corporation. Tüm hakları saklıdır
Sitemizdeki deneyiminizi iyileştirmek için çerezleri kullanıyoruz
Sitemizi kullanmaya devam ederek ya da "Devam et" butonuna tıklayarak, çerezleri kabul edebilirsiniz.