ضوء المحسن حمض الهيدروفلوريك التخميل: تقنية حساسة للكشف عن العيوب السيليكون السائبة
9.2K Views
•
09:15 min
•
January 4th, 2016
DOI :
January 4th, 2016
•Explore More Videos
Chapters in this video
0:05
Title
1:02
Cleaning and Etching the Silicon Wafers
4:08
Silicon Wafer Passivation and Photoconductive (PC) Measurement
7:08
Results: Silicon Wafer Photoconductive Measurement after Surface Passivation
8:10
Conclusion
Related Videos
الكريستالات السليكون الخلايا الشمسية الأغشية الرقيقة مع Plasmonic معززة للضوء للاحتباس
18.7K Views
توليف المرحلة تحول Nanoemulsions مع حجم التوزيعات الضيقة للتبخير القطرة الصوتية وفقاعة محسنة تذرية بوساطة الموجات فوق الصوتية
11.0K Views
الاتصال أحادي الطبقة المنشطات من السيليكون السطوح والأسلاك المتناهية الصغر عن طريق المركبات الفوسفورية العضوية
7.6K Views
تجارب اللهب في مصدر الضوء المتقدم: رؤى جديدة في عمليات تشكيل السخام
12.8K Views
Nanohelices قابلة للدراسات التنبؤية وتعزيز التصور 3D
10.4K Views
السيليكون المعدنية أكسيد أشباه الموصلات الكم النقاط لالضخ وحيد الإلكترون
14.3K Views
دمج ضوء الاصطياد الفضة النانوية في مهدرج الجريزوفولفين سيليكون الخلايا الشمسية عن طريق التحويل الطباعة
7.7K Views
الطباعة تصنيع السائبة متغاير الخلايا الشمسية و
10.2K Views
تصنيع وتشغيل Acoustofluidic أجهزة دعم السائبة موجات الصوتية الدائمة للSheathless التركيز من الجسيمات
12.7K Views
قياس الكم التدخل في المصدر السيليكون الدائري الرنان فوتون
8.3K Views
Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. All rights reserved