Количественное водорода концентрации в поверхностных и интерфейсных слоев и сыпучих материалов через профилирование по глубине с анализом ядерной реакции
26.4K Views
•
14:11 min
•
March 29th, 2016
DOI :
March 29th, 2016
•Смотреть дополнительные видео
Главы в этом видео
0:05
Title
1:29
Single Crystal Surface Preparation for Nuclear Reaction Analysis (NRA) in Ultra-high Vacuum
8:07
Surface Hydrogen Nuclear Reaction Analysis Measurements
9:24
Bulk and Interface Hydrogen Nuclear Reaction Analysis: Preparation and Measurement
11:02
Results: Nuclear Reaction Analysis Hydrogen Depth Profiles for Single Crystal Palladium and from Silicon Dioxide Films on Silicon
12:50
Conclusion
Похожие видео
Контроль размера, формы и стабильность супрамолекулярных полимеров в воде
18.5K Views
Печать Изготовление Bulk гетероперехода солнечных элементов и
10.2K Views
Изготовление и эксплуатация Acoustofluidic устройств с поддержкой объемных акустических стоячих волн для без футляра фокусировки частиц
12.7K Views
Синхронный мульти поверхности анодирования и лестниц как обратного смещения отряд анодное оксидов алюминия в серной и щавелевой кислоты электролит
7.2K Views
Определение возбуждения и сцепления между излучателей света и поверхностного плазмон поляритонов
6.7K Views
На месте Высокого давления водорода трибологических испытаний общих полимерных материалов, используемых в инфраструктуре доставки водорода
7.5K Views
Обработка металлов нанокристаллических сыпучих исследовательской лаборатории армии США
9.4K Views
Методы Ex Situ и In Situ исследования структурных преобразований: В случае кристаллизации металлических стекол
8.4K Views
Массовая и тонкопленочных синтез композиционно вариант энтропия стабилизированный оксидов
9.4K Views
Определение трибокоррозию скорость и износ коррозии синергии насыпных и тонкой пленки алюминиевых сплавов
11.2K Views
Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены