JoVE Logo

Войдите в систему

Сосредоточены ионного пучка фрезерные и сканирующей электронной микроскопии ткани мозга

28.0K Views

08:57 min

July 6th, 2011

DOI :

10.3791/2588-v

July 6th, 2011


Транскрипт

Смотреть дополнительные видео

Neuroscience

Главы в этом видео

0:05

Title

1:29

Sample Fixation and Resin Embedding

4:00

Preparing the Sample for the FIB/SEM

5:55

Imaging the FIB/SEM

8:03

Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue

8:40

Conclusion

Похожие видео

article

10:09

Крупномасштабное Сканирование просвечивающей электронной микроскопии (Nanotomy) здоровых и оскорбленные данио мозга

11.1K Views

article

07:47

Анализ мозга Митохондрии Использование последовательного Block-Face сканирующая электронная микроскопия

14.0K Views

article

13:49

Сосредоточенная литография Ионного Луча для наноархитектур etch в микроэлектроды

6.7K Views

article

05:12

Метод, основанный на микро CT, характеризующие поражений и расположения электродов в небольших животных мозги

8.4K Views

article

11:16

Последовательная блочно-лицевая сканирующая электронная микроскопия (SBEM) для исследования дендритных шипов

3.7K Views

article

09:09

Целевые исследования с использованием серийного блока лица и целенаправленной ионного луча сканирования электронной микроскопии

9.2K Views

article

08:20

Подготовка образцов методом 3D-коррелятивного фрезерования сфокусированного ионного пучка для криоэлектронной томографии высокого разрешения

3.2K Views

article

09:30

Focused Ion Beams

9.0K Views

article

01:11

Исследование черепно-мозговой травмы личинки данио-рерио с помощью крупномасштабной сканирующей просвечивающей электронной микроскопии

118 Views

article

01:19

Imaging of Neuronal Mitochondria Using a Serial Block-Face Scanning Electron Microscope

32 Views

JoVE Logo

Исследования

Образование

О JoVE

Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены