Todo-eletrônico nanossegundo-resolvido encapsulamento microscopia: Facilitar a investigação do Dopant única carga dinâmica

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•

11:33 min

•

January 19th, 2018

DOI :

10.3791/56861-v

January 19th, 2018

•

Mohammad Rashidi¹^,², Wyatt Vine¹, Jacob A.J. Burgess³^,⁴^,⁵, Marco Taucer¹^,²^,⁶, Roshan Achal¹, Jason L. Pitters², Sebastian Loth³^,⁴, Robert A. Wolkow¹^,²

¹Department of Physics, University of Alberta, ²National Institute for Nanotechnology, National Research Council of Canada, Edmonton, ³Max Planck Institute for the Structure and Dynamics of Matter, ⁴Max Planck Institute for Solid State Research, ⁵Department of Physics and Astronomy, University of Manitoba, ⁶Joint Attosecond Science Laboratory, University of Ottawa

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Capítulos neste vídeo

0:05

Title

0:52

Initial Setup of Microscope and Experiments

2:05

Preparation of the H-Si(100)-(2x1) Reconstruction

4:20

Assessing the Quality of the Pump-probe Pulses at the Tunnel Junction

6:32

Experiment 1: Time-resolved Scanning Tunneling Spectroscopy

7:55

Experiment 2: Time-resolved STM Measurements of Relaxation Dynamics

8:47

Experiment 3: Time-resolved STM Measurements of Excitation Dynamics

9:27

Results: Investigation of Single Dopant Change Dynamics

10:43

Conclusion

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