JoVE Journal
Bioengineering
Aby wyświetlić tę treść, wymagana jest subskrypcja JoVE.
6.7K Views
•
13:49 min
•
January 19th, 2020
DOI :
January 19th, 2020
•Rozdziały w tym wideo
0:04
Title
0:51
Aligning the Focus Ion Beam (FIB) to the Silicon Probes
9:46
Writing an Automated Process for Etching
11:28
Results: FIB Etched Nano-architecture on the Surfaces of Intracortical Probes and Microelectrodes Affects Neuron Density and Electrophysiology
13:08
Conclusion
Powiązane Filmy
10.0K Views
8.7K Views
12.3K Views
11.7K Views
7.2K Views
10.1K Views
10.1K Views
5.7K Views
3.4K Views
9.0K Views
ISSN 2578-2614
Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. Wszelkie prawa zastrzeżone
Używamy plików cookie, aby ulepszyć Twoje wrażenia z korzystania z naszej witryny.
Kontynuując korzystanie z naszej witryny lub klikając „Kontynuuj”, wyrażasz zgodę na akceptację naszych plików cookie.