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Engineering

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Nanyang Technological University

核反応分析と深さ方向分析を通じて表面・界面層とバルク材料中の水素濃度の定量

我々は、定量的に表面上に、体積で、 ​​固体材料の界面層の水素原子の密度を評価するために、12 Cの共鳴核反応分析(NRA)(αγ、15 N)1 Hの適用を示します。パラジウムの表面近傍水素深さプロファイリング(110)単結晶およびSiO 2 / Siから(100)スタックに記載されています。

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0:05

Title

1:29

Single Crystal Surface Preparation for Nuclear Reaction Analysis (NRA) in Ultra-high Vacuum

8:07

Surface Hydrogen Nuclear Reaction Analysis Measurements

9:24

Bulk and Interface Hydrogen Nuclear Reaction Analysis: Preparation and Measurement

11:02

Results: Nuclear Reaction Analysis Hydrogen Depth Profiles for Single Crystal Palladium and from Silicon Dioxide Films on Silicon

12:50

Conclusion

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