Electron Canalisation imagerie de contraste pour Rapid III-V hétéroépitaxiale Caractérisation
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.
10.9K Views
•
07:50 min
•
July 17th, 2015
DOI :
July 17th, 2015
•Chapitres dans cette vidéo
0:05
Title
2:03
GaP/Si Sample Loading
2:51
Set up of Appropriate Working Conditions
3:46
Visualization of the Sample's Electron Channeling Patterns
4:35
Imaging of Defects and Features
6:13
Results: Imaging Clearly Shows the Misfit Networks in GaP/Si Samples
7:14
Conclusion
Vidéos Associées
08:12
Contact ohmique fabrication utilisant une technique Focused Ion Beam-et caractérisation électrique pour la couche semi-conducteurs Nanostructures
12.2K Views
11:14
Caractérisation complète des défauts étendus dans les matériaux semi-conducteurs par un microscope électronique à balayage
13.6K Views
09:36
Caractérisation des anisotropes Leaky mode Modulateurs pour Holovideo
7.9K Views
10:31
assisté par plasma épitaxie par faisceau moléculaire de N-polaire InAlN-barrière Transistors à haute mobilité d'électrons
8.5K Views
11:59
In Situ Caractérisation des particules de Boehmite dans l’eau à l’aide de liquide SEM
9.2K Views
06:57
Calcul théorique et vérification expérimentale pour la réduction de la dislocation dans les couches épitaxiales de germanium avec vides semi-cylindriques sur silicium
2.1K Views
13:05
Plasma-Assisted Molecular Beam Epitaxy Growth of Mg 3 N 2 and Zn 3 N 2 Thin Films Plasma-Assisted Molecular Beam Epitaxy Growth of Mg 3 N 2 and Zn 3 N 2 Thin Films Plasma-Assisted Molecular Beam Epitaxy Growth of Mg3N2 and Zn3N2 Thin Films Plasma-
7.5K Views
09:49
Microscopie électronique de transmission in situ avec biais et fabrication de barres transversales asymétriques basées sur la phase mixte a-VOx
4.0K Views
07:10
Reconstruction 3D du profil de profondeur des impuretés ségréguées à l’aide de la spectrométrie de masse d’ions secondaires
1.6K Views
11:03
Caractérisation à l’échelle nanométrique des interfaces liquide-solide par couplage du fraisage par faisceau d’ions cryoconcentré avec la microscopie électronique à balayage et la spectroscopie
3.4K Views
À PROPOS DE JoVE
Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. Tous droits réservés.