توصيف شامل العيوب الممتدة في المواد أشباه الموصلات من خلال مجهر المسح الإلكتروني

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

13.6K Views

•

11:14 min

•

May 28th, 2016

DOI :

10.3791/53872-v

May 28th, 2016

•

Ellen Hieckmann¹, Markus Nacke¹, Matthias Allardt¹, Yury Bodrov¹, Paul Chekhonin², Werner Skrotzki², Jörg Weber¹

¹Institute of Applied Physics, Semiconductor Physics, Technische Universität Dresden, ²Institut für Strukturphysik, Technische Universität Dresden

Summary

Explore More Videos

111 SEM cathodoluminescence CL ccEBSD

Chapters in this video

0:05

Title

1:16

Sample Preparation for Cryo-cathodoluminescence Experiment

6:28

Performing Cross-correlation Electron Backscatter Diffraction Experiments

8:50

Results: Cathodoluminenscence and Strain Fields of Extended Defects in Silicon

2:06

Cryo-cathodoluminescence Experiment

10:19

Conclusion

Related Videos

07:37

الكشف عن العمليات الدينامية للمواد السائلة في السوائل عن طريق انتقال الإلكترون المجهري الخليوي

12.6K Views

11:47

توصيف التعديلات السطحية من التداخل الضوء الأبيض: تطبيقات في التتفيل ايون، التذرية الليزر، والتجارب علم احتكاك المفاصل

15.5K Views

10:53

المسح مسبار واحدة الإلكترون الطيفي السعة

13.0K Views

05:20

توصيف النقل الحراري في المواد الصلبة ذات بعد واحد

17.1K Views

07:50

الإلكترون توجيه التباين التصوير لرابيد III-V Heteroepitaxial توصيف

10.9K Views

14:58

السيليكون المعدنية أكسيد أشباه الموصلات الكم النقاط لالضخ وحيد الإلكترون

14.3K Views

11:00

التحكم ناحية التلاعب احدة الجزيئات عن طريق المجهر التحقيقي مع واجهة الواقع الافتراضي 3D

8.9K Views

10:29

دراسة العمليات الديناميكية للأجسام نانو الحجم في السائل باستخدام المسح الضوئي نقل المجهر

12.6K Views

06:53

مسح دراسة الحبار من التلاعب دوامة من الاتصال المحلي

6.8K Views

07:15

طريقة جديدة ل

9.1K Views