Transmisyon Elektron Mikroskobu Situ Zamana bağlı Dielektrik Dağılımı In: Bir imkanı Mikroelektronik aygıtlar Başarısızlık Mekanizması Anlayın
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.
8.6K Views
•
09:26 min
•
June 26th, 2015
DOI :
June 26th, 2015
•Bu videodaki bölümler
0:05
Title
1:35
Sample Preparation
2:30
Focused Ion Beam Thinning in a Scanning Electron Microscope
3:53
Sample Transfer to the Transmission Electron Microscope
4:29
Establishing the Electrical Connection
5:19
In Situ Time-dependent Dielectric Breakdown Experiment
6:50
Computed Tomography
7:22
Results: Failure Mechanism in Microelectronic Devices
8:34
Conclusion
İlgili Videolar
07:50
Rapid III-V Heteroepitaxial Karakterizasyonu için Elektron Channeling Kontrast Görüntüleme
10.9K Views
10:31
Algılama ve Palladium Kurtarma Kentsel Madeninde Altın ve Kobalt Metal Nano Wagon tekerlekli şeklindeki Porların ile Belirlenmiş Yeni Sensörler / adsorbanlar kullanma
28.0K Views
08:46
Çok ölçekli Üç boyutlu Mikroelektronik paketleri Soruşturma Sinkrotron Radyasyon Microtomography kullanma
10.0K Views
11:14
Bir Tarama Elektron Mikroskobu tarafından Yarıiletken Malzemelerin Genişletilmiş Kusur Kapsamlı Karakterizasyonu
13.6K Views
08:57
Havada Dielektrik mikropartiküllerin Optik Tuzak Yükleme
9.0K Views
09:46
Transmisyon elektron mikroskobu mikroorganizmaların seri Ultrathin bölümler elde etmek için bir yöntem
14.1K Views
08:55
Ex Situ ve yapısal dönüşümleri in Situ soruşturma yöntemleri: Metalik gözlük kristalleşme olgusu
8.4K Views
10:25
Tek basamaklı nanometre elektron ışını litografi bir sapma düzeltilmiş tarama transmisyon elektron mikroskobu ile
10.0K Views
06:34
Polimer Bazlı Nanokompozitlerin Dielektrik Özelliklerini Geliştirmek İçin Kaplin Maddesi Uygulaması
5.7K Views
09:49
Karışık Fazlı a -VOx'e Dayalı Asimetrik Çapraz Çubukların Önyargılı ve İmalatlı Yerinde İletim Elektron Mikroskopisi
4.0K Views
JoVE Hakkında
Telif Hakkı © 2020 MyJove Corporation. Tüm hakları saklıdır