Entrar
Você tem acesso completo à esse conteúdo pelo(a)
Nanyang Technological University6.1K Views
•
15:25 min
•
February 4th, 2018
DOI :
February 4th, 2018
•0:00
Title
2:51
Selecting and Designing Optimum Structure
3:31
Modeling and Fabrication on CMOS
5:39
Device Testing: Thermal Camera Test for Embedded Heaters
6:27
Device Testing: Calibrating LDV and Test Setup
9:19
Device Testing: Testing 68μm Long MEMS Filters via LDV
10:32
Device Testing: Higher Mode Measurement
11:01
Avoiding Device Failures
11:45
Avoiding Failures: High Thermal Stress and Burning
12:10
Boosting The Tuning Capability
13:16
Results
14:07
Conclusion
Vídeos relacionados
14.8K Views
10.2K Views
9.7K Views
15.3K Views
10.2K Views
16.5K Views
12.0K Views
11.1K Views
9.1K Views
6.0K Views
Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. Todos os direitos reservados
Usamos cookies para melhorar sua experiência em nosso site.
Ao continuar usando nosso site ou clicando em 'continuar', você concorda em aceitar nossos cookies.