JoVE Logo

Meld u aan

3D Depth Profile Reconstruction of Segregated Impurities Using Secondary Ion Mass Spectrometry

1.7K Views

07:10 min

April 29th, 2020

DOI :

10.3791/61065-v

April 29th, 2020


Meer video's verkennen

3D Depth Profile

Hoofdstukken in deze video

0:00

Introduction

0:57

Defect Selective Etching

2:09

Scanning Electron Microscopy

2:50

Secondary Ion Mass Spectrometry

5:34

Results: Oxygen Counts in a Cuboid

6:29

Conclusion

Gerelateerde video's

JoVE Logo

Privacy

Gebruiksvoorwaarden

Beleid

Onderzoek

Onderwijs

Over JoVE

Auteursrecht © 2025 MyJoVE Corporation. Alle rechten voorbehouden